แป้นเกิด ส., & ค้ำคูณ ป. (2026). การศึกษาเปรียบเทียบสถาปัตยกรรม YOLO สำหรับการตรวจจับข้อบกพร่องบนรอยเชื่อมที่ซับซ้อนภายใต้ความกำกวมของป้ายกำกับ. วารสารวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี หัวเฉียวเฉลิมพระเกียรติ, 12(1), 96–108. สืบค้น จาก https://ph02.tci-thaijo.org/index.php/scihcu/article/view/263986