แป้นเกิด ส.; ค้ำคูณ ป. การศึกษาเปรียบเทียบสถาปัตยกรรม YOLO สำหรับการตรวจจับข้อบกพร่องบนรอยเชื่อมที่ซับซ้อนภายใต้ความกำกวมของป้ายกำกับ. วารสารวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี หัวเฉียวเฉลิมพระเกียรติ, กรุงเทพฯ, ประเทศไทย, v. 12, n. 1, p. 96–108, 2026. Disponível em: https://ph02.tci-thaijo.org/index.php/scihcu/article/view/263986. Acesso em: 7 ต.ค. 2026.