แป้นเกิด ส. และ ค้ำคูณ ป. (2026) “การศึกษาเปรียบเทียบสถาปัตยกรรม YOLO สำหรับการตรวจจับข้อบกพร่องบนรอยเชื่อมที่ซับซ้อนภายใต้ความกำกวมของป้ายกำกับ”, วารสารวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี หัวเฉียวเฉลิมพระเกียรติ. กรุงเทพฯ, ประเทศไทย, 12(1), น. 96–108. available at: https://ph02.tci-thaijo.org/index.php/scihcu/article/view/263986 (สืบค้น: 8 ตุลาคาม 2026).