แป้นเกิด ส. และ ค้ำคูณ ป., “การศึกษาเปรียบเทียบสถาปัตยกรรม YOLO สำหรับการตรวจจับข้อบกพร่องบนรอยเชื่อมที่ซับซ้อนภายใต้ความกำกวมของป้ายกำกับ”, scihcu, ปี 12, ฉบับที่ 1, น. 96–108, มิ.ย. 2026.