แป้นเกิด ส., และ ค้ำคูณ ป. “การศึกษาเปรียบเทียบสถาปัตยกรรม YOLO สำหรับการตรวจจับข้อบกพร่องบนรอยเชื่อมที่ซับซ้อนภายใต้ความกำกวมของป้ายกำกับ”. วารสารวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี หัวเฉียวเฉลิมพระเกียรติ, ปี 12, ฉบับที่ 1, มิถุนายน 2026, น. 96-108, https://ph02.tci-thaijo.org/index.php/scihcu/article/view/263986.