แป้นเกิด ส, ค้ำคูณ ป. การศึกษาเปรียบเทียบสถาปัตยกรรม YOLO สำหรับการตรวจจับข้อบกพร่องบนรอยเชื่อมที่ซับซ้อนภายใต้ความกำกวมของป้ายกำกับ. scihcu [อินเทอร์เน็ต]. 8 มิถุนายน 2026 [อ้างถึง 7 ตุลาคาม 2026];12(1):96-108. available at: https://ph02.tci-thaijo.org/index.php/scihcu/article/view/263986