การลดเวลาในกระบวนการทดสอบทางไฟฟ้าของผลิตภัณฑ์ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์

บทคัดย่อ

งานวิจัยนี้มีวัตถุประสงค์เพื่อลดเวลาการผลิตโดยรวมของผลิตภัณฑ์วงจรรวม (IC) รุ่นหนึ่ง โดยมุ่งเน้นการลดระยะเวลาในกระบวนการทดสอบทางไฟฟ้า ซึ่งเป็นขั้นตอนที่ส่งผลกระทบโดยตรงต่อต้นทุนรวม จากการศึกษาพบว่ากระบวนการทดสอบเดิมใช้เวลาเฉลี่ย 11.53 วินาทีต่อการทดสอบ 480 หน่วย และมีต้นทุนการผลิตรวมสำหรับปี 2566-2567 อยู่ที่ 1,863,655 บาท งานวิจัยได้ทำการศึกษาสาเหตุโดยใช้แผนภูมิก้างปลาและการวิเคราะห์เวลาในแต่ละขั้นตอนการทดสอบและดำเนินการปรับปรุงแก้ไขปัญหาที่เวลาในการทดสอบใช้เวลานานส่งผลต่อต้นทุนในการทดสอบการวิเคราะห์พบว่าสาเหตุหลักเกิดจากระยะเวลาที่ใช้ในการประมวลผลและแสดงผลกราฟิกบนหน้าจอของผู้ปฏิบัติงาน โดยเฉพาะหน้าต่าง "Yield" ซึ่งแสดงผลเป็นแผนภูมิแท่งใช้เวลามาก ดังนั้นผู้วิจัยได้ทำการแก้ไขปรับปรุงโดยการปิดหน้าต่างแสดงผลต่างๆ และพบว่าการปิดหน้าต่าง "Yield" สามารถลดเวลาของเครื่องจักรจาก 3.83 วินาที เหลือเพียง 0.58 วินาที จึงได้มีการพัฒนาชุดคำสั่งใหม่โดยเปลี่ยนรูปแบบการแสดงผลของหน้าต่าง "Yield" จากแผนภูมิแท่งเป็นข้อมูลแบบข้อความ (Text) ผลการทดสอบโดยใช้การออกแบบการทดลองหลังการปรับปรุงพบว่าระยะเวลาของกระบวนการทดสอบทางไฟฟ้าโดยรวมลดลงเหลือ 7.96 วินาที ซึ่งเป็นการลดลงถึงร้อยละ 31 การปรับปรุงนี้ส่งผลให้สามารถลดต้นทุนการผลิตเทียบเคียงโดยใช้ข้อมูลสำหรับปี 2566-2567 ลงได้ 852,990 บาท หรือคิดเป็นร้อยละ 46 สามารถนำไปประยุกต์ใช้กับผลิตภัณฑ์อื่นเพื่อเพิ่มประสิทธิภาพและลดต้นทุนในภาพรวมขององค์กรต่อไปได้